Thickness Sensor
FACTS CFT Gauge เครื่องวัดความหนาของฟิล์มเคลือบ
การวัดความหนา CFT สำหรับเคลือบฟิล์ม การวัดความหนาของฟิล์มเคลือบผิว การวัด FACTS CFT ให้การวัดความหนาที่แน่นอนของการเคลือบฟิล์มผิวในแต่ละชั้นและความหนาของฟิล์มทั้งหมด FACTS CFT Gauge สามารถวัดความหนาที่ของ ฟิล์มยืด ฟิล์มเป่า Mono Layer Film (ฟิล์มชั้นเดียวบริเวณรอยต่อระหว่างอากาศและน้ำ) ฟิล์มหลายชั้น พื้นผิวแบบเคลือบ (เทคโนโลยีด้านเดียว)และวัสดุสี
cftDiagram_2
The CFT gauge is an optical measurement system that operates on the principle of interferometry and is specifically designed to evaluate the interaction of light reflected from materials with different indices of refraction. An optical probe placed over the target material is used to supply a high intensity infrared light source onto and through the material. As the light transitions into a material with a different index of refraction, some of the light is reflected back. The reflected light is passed through the same probe assembly to a control module where its characteristics are analyzed and ultimately the thickness of each layer and the total thickness are precisely calculated.
Applications
Suitable for any application where the product to be measured allows the infrared light source to propagate through and reflect back. Materials can be transparent, translucent or colored.
Profile Scanning Systems
•Provides measurement of cross direction profle and machine direction thickness
•Available for web widths up to 120 inches
•Optional Auto Profile Control available
•Provided complete with the FACTS Total Profile Control console, measurement sensor, frame controller,
and single side scanning frame.
Fixed Point Systems
•Provides measurement of machine direction thickness
•Support for multiple sensors across a web and/or along a process line
•Optional sensor indexing system available
•Provided complete with the FACTS Total Profile Control console measurement sensors and sensor mount
Related Application
- Tera Gauge
- non-nuclear Gauge
- SME
- LTM
- Nuclear and X-Ray Gauge
- CFT Gauge
